METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	NEKLYUDOV IVAN M,SU, MEDNIKOVA OLGA S,SU, BORISOV VALENTIN V,SU, GORDEEV SERGEJ I,SU, POLYASHENKO REM F,SU, TATUS VIKTOR I,SU, SHKILKO ANATOLIJ M,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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