SPECTRUM ANALYZER WITH LINEAR PREDICTION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LVOV NIKOLAJ P,SU, EPSHTEJN TSETSILIYA B,SU, YAKIMENKO VLADIMIR I,SU, STOLBOV MIKHAIL B,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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