INTERFEROMETER FOR MEASURING LINEAR DISPLACEMENTS OF OBJECT

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BARASH VLADIMIR YA,SU, PRESNYAKOV GENNADIJ S,SU, REZNIKOV ALEKSANDR L,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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