X-RAY DIFFRACTION METHOD OF ANALYZING STRUCTURE DISARRANGEMENTS IN THIN NEAR-SURFACE LAYERS OF CRYSTALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ZAVYALOVA ANNA A,SU, IMAMOV RAFIK M,SU, PASHAEV ELKHAN M,SU, FEDYUKIN SERGEJ A,SU, KHASHIMOV FARRUKH R,SU, AFANASEV STANISLAV M,SU, LOMOV ANDREJ A,SU, AFANASEV ALEKSANDR M,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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