DEVICE FOR MEASURING THERMAL TIME CONSTANT OF JUNCTION-CASE OF SEMICONDUCTOR EQUIPMENT

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	DMITRIEV SERGEJ V,SU, BELSKIJ ALEKSEJ M,SU, ZABIROV NAIL L,SU, KRICHUN ANDREJ T,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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