METER OF FLUCTUATION SPECTRUM OF LOW-FREQUENCY RESISTANCE OF TWO-TERMINAL NETWORK

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LOSEV VALERIJ L,SU, KIREEV OLEG A,SU, MALYSHEV VIKTOR M,SU, MESHCHERYAKOV ALEKSANDR V,SU, RUMYANTSEV SERGEJ L,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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