METHOD OF GENERATING IMAGE IN SCANNING ELECTRON-BEAM PROBE SYSTEMS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SPIVAK GRIGORIJ V,SU, GOSTEV ALEKSANDR V,SU, RAU EDUARD I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES NANOTECHNOLOGY PERFORMING OPERATIONS SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES TRANSPORTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!