ARRANGEMENT FOR INSPECTING ELECTRIC RESISTANCE OF MOVING CONTINUOUS ARTICLES OF MICRON THICKNESS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GAK SERGEJ P,SU, KRASAVIN YURIJ I,SU, SIROTKIN SERGEJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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