X-RAY LOW-TEMPERATURE CAMERA FOR MONOCRYSTALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TARNAVSKIJ ANTON I,SU, BONDAR VLADIMIR I,SU, DANILCHENKO VITALIJ E,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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