METHOD OF MEASURING ION COEFFICIENT OF THERMO-EMF-MIXED SEMICONDUCTORS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	CHKHENKELI NANA S,SU, ZHVANIYA IRAKLIJ A,SU, IORGA TAMARA P,SU, INGLIZYAN PAVEL N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!