DEVICE FOR CHECKING PLANAR STRUCTURES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SHUMILIN ANATOLIJ S,SU, LEBEDEV BORIS M,SU, MIKHAJLOV ANATOLIJ G,SU, KRYUKOV MIKHAIL G,SU, METKIN NIKOLAJ P,SU, LOPUKHIN VLADIMIR A,SU, YAVNOV GENNADIJ N,SU, SHELEST DMITRIJ K,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!