DEVICE FOR MEASURING PARAMETERS OF ELECTROTHERMAL NONLINEARITY OF RESISTORS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SHAGLIJ GALINA S,SU, OMELIN VLADIMIR K,SU, BRAJNINA IRINA S,SU, FEDOROVSKIJ VLADIMIR F,SU, RUD VIKTOR V,SU, RODIN YURIJ P,SU, ENIKEEV NAIL R,SU, CHERNYKH VLADIMIR D,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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