METHOD OF PRODUCING REFERENCE SPECIMEN FOR FLAW DETECTION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KALININ NIKOLAJ P,SU, KATAEV ALEKSANDR N,SU, DENEL ALEKSANDR K,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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