METHOD OF DETERMINING DENSITY DISTRIBUTION OF STATE OF AMORPHOUS SEMICONDUCTORS IN FORBIDDEN ZONE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ANDREEV A.A.,SU, KONKOV O.I.,SU, TERUKOV E.I.,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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