DEVICE FOR MEASURING THICKNESS OF COMPENSATOR IN TWO DIAMETRICALLY OPPOSITE POINTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ZOTOV ALEKSEJ M,SU, PETROV VADIM V,SU, ROGOZNYJ ALEKSANDR I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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