INTERFEROMETER FOR MEASURING OBJECT LINEAR AND ANGULAR DISPLACEMENTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KUDINOV NIKOLAJ V,SU, POZDNYAKOV VITALIJ F,SU, VOROBEV OLEG M,SU, SERGEEV SERGEJ S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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