DEVICE FOR X-RAY STRUCTURAL ANALYSIS (ITS VERSIONS)

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MINAKOV VENIAMIN N,SU, GUREVICH MAJOR E,SU, TREFILOV VIKTOR I,SU, BLUDILIN EVGENIJ N,SU, ZHURAVLEV BORIS F,SU, LARIKOV LEONID N,SU, GRIDNEV VITALIJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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