METHOD OF CHECKING-DIELECTRIC-BASED DIELECTRIC FILM THICKNESS AND REFRACTION FACTOR

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SOROKA VLADIMIR V,SU, YURIN NIKOLAJ V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!