DEVICE FOR CHECKING ASPHERIC SURFACES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MUSTAFIN KAMIL S,SU, MAVRIN SERGEJ V,SU, TOPORKOVA IRINA A,SU, LUKIN ANATOLIJ V,SU, RAFIKOV RAFIK A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!