X-RAY SPECTROMETER

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	NIKANDROV ALEKSANDR G,SU, MOROZOV VLADIMIR I,SU, PANOV ANATOLIJ F,SU, VERMAN BORIS S,SU, ZAKHARCHENKO VALTER I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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