METHOD OF ESTIMATING STATE OF SURFACE OF PARTICLES ON THEIR PLANAR IMAGE
FIELD: physics.SUBSTANCE: invention relates to the field of stereological analysis and relates to the method of assessing the state of the surface of particles on their planar image. Method includes lighting particles and recording their images. Particle image is converted into a two-color image mod...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: physics.SUBSTANCE: invention relates to the field of stereological analysis and relates to the method of assessing the state of the surface of particles on their planar image. Method includes lighting particles and recording their images. Particle image is converted into a two-color image mode, the reduced diameter of the particle is set and based on the image of the flat projection of the equivalent particle shape, the image of the flat projection of the equivalent particle shape is superimposed on the image of the actual particle projection, real projection regions extending beyond the plane of the equivalent shape of the particle, which are taken as surface texture elements (STE). STE is separated from the image and separately subjected to analysis to determine their size and the sphericity factor, their fractional and morphological composition in aggregate is evaluated, and their distribution relative to the Gauss curve is determined, the analysis results are presented in the form of a histogram, according to the shape of which the state of the particle surface is determined.EFFECT: technical result consists in improvement of accuracy of analysis of particles of wide size range and enabling evaluation of particle topography.5 cl, 8 dwg, 2 tbl
Изобретение относится к области стереологического анализа и касается способа оценки состояния поверхности частиц по их плоскостному изображению. Способ включает в себя освещение частиц и регистрацию их изображений. Изображение частицы переводят в режим двухцветного изображения, устанавливают приведенный диаметр частицы и на его основе строят изображение плоской проекции эквивалентной фигуры частицы, производят наложение изображения плоской проекции эквивалентной фигуры частицы на изображение реальной проекции частицы, устанавливают области реальной проекции, выходящие за границы плоской проекции эквивалентной фигуры частицы, которые принимают за элементы текстуры поверхности (ЭТП). ЭТП отделяют от изображения и отдельно подвергают анализу для установления их размера и коэффициента сферичности, оценивают их фракционный и морфологический состав в совокупности и определяют их распределение относительно кривой Гаусса, результаты анализа представляют в виде гистограммы, по форме которой судят о состоянии поверхности частиц. Технический результат заключается в повышении точности анализа частиц широкого размерного ряда и обеспечении возможности оценки рельефа частиц. 4 з.п. ф-лы, 8 ил., 2 табл. |
---|