METHOD FOR EVALUATING ENDOMETRIAL DYSFUNCTION IN FEMALES WITH PRIMARY ENDOMETRIOSIS-ASSOCIATED INFERTILITY
FIELD: medicine.SUBSTANCE: invention refers to medicine, particularly to pathomorphology, obstetrics and gynecology. What is presented is a method for assessing endometrial receptivity in the period of the "implantation window" for correcting the tactics of high-technology reproductive tec...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: medicine.SUBSTANCE: invention refers to medicine, particularly to pathomorphology, obstetrics and gynecology. What is presented is a method for assessing endometrial receptivity in the period of the "implantation window" for correcting the tactics of high-technology reproductive technologies (HRT) in females with primary endometriosis-associated infertility. On 20th-22nd day of the menstrual cycle, endometrial pipelle biopsy is used to determine expression of PTEN and p53, followed by calculating a prognostic index (PI) by formula PI = X1×-0.54+0.233×X2-0.165×X3+29.2. If PI is more than 0, the endometrial is considered to be ready for successful implantation of the embryo and possibility of directing the woman to the HRT program. If PI is less than 0, high risk of reproductive failures in HRT programs is predicted.EFFECT: invention enables high-probability determination of endometrial susceptibility to blastocyst implantation during the "implantation window" in females with primary infertility caused by endometriosis.1 cl, 3 ex
Изобретение относится к области медицины, в частности к патоморфологии, акушерству и гинекологии. Предложен способ оценки рецептивности эндометрия в период «имплантационного окна» для коррекции тактики высокотехнологичных репродуктивных технологий (ВРТ) у женщин с первичным эндометриоз-ассоциированным бесплодием. На 20-22 день менструального цикла производят пайпель-биопсию эндометрия и определяют экспрессию PTEN и p53 с последующим вычислением прогностического индекса (PI) по формуле PI = Х1×-0,54+0,233×Х2-0,165×Х3+29,2. При PI более 0 делают заключение о готовности эндометрия к успешной имплантации эмбриона и возможности направления женщины в программу ВРТ. При PI менее 0 прогнозируют высокий риск репродуктивных неудач в программах ВРТ. Изобретение позволяет с высокой долей вероятности определять восприимчивость эндометрия к имплантации бластоцисты в период «имплантационного окна» у женщин с первичным бесплодием, обусловленным эндометриозом. 3 пр. |
---|