METHOD FOR DETERMINING TOXICITY OF MATERIALS

FIELD: biotechnology.SUBSTANCE: invention relates to biotechnology and can be used to assess toxicity of various materials. Method for determining toxicity of materials involves growing Chlorella vulgaris in an aqueous solution containing NHNO, KHPO, NaHPO, (NH)SO, (NH)CO, Mg(NO), FeCland CaClin a given number of components and at given parameters both in the presence of different amounts of tested materials, and in their absence. At the beginning and at the end of incubation samples are used to measure intensity of light elastically scattered at wave length 540±10 nm (Iod), optical density at wavelength of 435±10 nm (Avd) and photofluorescence intensity at excitation and emission wavelengths 367±10 nm and 685±10 nm (Iff). Total degree of activation or inhibition (+/-) of the test microorganisms activity by the tested materials is determined using formula: ε=(ε+ε+ε)/3, where ε, εand εare determined by formulas ε=100×(ΔYt-ΔYc)/ΔYc, where ΔY=Ye-Yb - difference of values Iod, Avd or Iff, recorded in beginning (Yb) and at end (Ye) incubation of test samples in presence of tested materials (ΔYt) and in their absence (ΔYc).EFFECT: invention increases objectivity of determining toxicity of materials.1 cl, 1 tbl Изобретение относится к биотехнологии и может быть использовано для оценки токсичности различных материалов. Способ определения токсичности материалов предусматривает выращивание Chlorella vulgaris в водном растворе, содержащем NHNO, KHPO, NaHPO, (NH)SO, (NH)CO, Mg(NO), FeClи CaClв заданном количестве компонентов и при заданных параметрах как в присутствии различных количеств тестируемых материалов, так и в их отсутствие. В начале и в конце инкубации у образцов измеряют интенсивность света, упруго рассеиваемого на длине волны 540±10 нм (Iod), оптическую плотность на длине волны 435±10 нм (Avd) и интенсивность фотофлуоресценции при длинах волн возбуждения и эмиссии 367±10 нм и 685±10 нм (Iff). Общую степень активирования или ингибирования (+/-) жизнедеятельности тестовых микроорганизмов тестируемыми материалами определяют по формуле: ε=(ε+ε+ε)/3, где ε, εи εопределяют по формулам ε=100×(ΔYt-ΔYc)/ΔYc, где ΔY=Ye-Yb - разности значений Iod, Avd или Iff, регистрируемых в начале (Yb) и в конце (Ye) инкубации тестовых образцов в присутствии тестируемых материалов (ΔYt) и в их отсутствие (ΔYc). Изобретение позволяет повысить объективность определения токсичности материалов. 1 табл.