DEVICE FOR OBTAINING ELECTRON MICROSCOPIC IMAGE AND LOCAL ELEMENT ANALYSIS OF RADIOACTIVE SAMPLE BY ELECTRON MICROSCOPY IN RADIATION PROTECTION CHAMBER

FIELD: optics.SUBSTANCE: invention relates to scanning electron microscopes (SEM) and is intended for obtaining an electron microscope image and local elemental analysis of a radioactive sample in a radiation protection chamber with data visualization on a computer screen. Essence of the invention l...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kiryukhin Vyacheslav Evgenevich, Zhukov Andrej Viktorovich, Ulyanenkov Aleksandr Georgievich, Makarychev Vyacheslav Vladimirovich, Fomin Aleksandr Nikolaevich, Vlasenko Vyacheslav Sergeevich, Sobolev Aleksej Aleksandrovich, Svetukhin Vyacheslav Viktorovich
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: optics.SUBSTANCE: invention relates to scanning electron microscopes (SEM) and is intended for obtaining an electron microscope image and local elemental analysis of a radioactive sample in a radiation protection chamber with data visualization on a computer screen. Essence of the invention lies in the fact that the device for obtaining an electron microscopic image and a local elemental analysis of a radioactive sample by electron microscopy in a radiation protection chamber contains an electronic unit, vacuum sensor, a wave dispersion spectrometer, a control unit and a turbomolecular pump equipped with lead radiation shielding screens against a radioactive sample under investigation placed on the working table of a microscope, in addition, the pen drive of the aperture unit is equipped with two electric drives for moving the apertures in two mutually perpendicular directions in the same plane, and the reverse-reflected-electron detector drive handle is electrically operated and with a toothed belt drive.EFFECT: enhanced functionality through the use of an EMS in a radiation protection chamber.1 cl, 5 dwg Изобретение относится к сканирующим электронным микроскопам (СЭМ) и предназначено для получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца в радиационно-защитной камере с визуализацией данных на экране компьютера. Сущность изобретения заключается в том, что устройство получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца методом электронной микроскопии в радиационно-защитной камере содержит электронный блок, датчик вакуума, спектрометр волновой дисперсии, блок управления и турбомолекулярный насос, оснащенные свинцовыми экранами радиационной защиты от исследуемого радиоактивного образца, размещенного на рабочем столике микроскопа, кроме того, ручка привода блока апертур оснащена двумя электрическими приводами для перемещения апертур по двум взаимно перпендикулярным направлениям в одной плоскости, а ручка привода детектора обратно отраженных электронов оснащена электрическим приводом и зубчатой ременной передачей. Технический результат - расширение функциональных возможностей путем использования СЭМ в радиационно-защитной камере. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.