METHOD OF MEASURING THE DIELECTRIC INTERFACE LEVEL, WHICH IS INVARIANT TO THE DIELECTRIC PERMITTIVITY VALUE

FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: invention relates to measuring equipment and is intended for measuring the levels of dielectric interfaces in various industries - oil refining, gas, chemical, etc. Method for measuring the dielectric interfaces includes immersing a sensing element, made in the form of independent capacitors, in the measured medium, their electrodes are located along the common axis and differ in length, measurement of the capacitances of said capacitors, determination of the dielectric interface level taking into account the capacitance ratio of the capacitors of the sensing element. Method of obtaining the level value takes into account the parasitic capacitances of the capacitors of the sensing element, obtained and stored in memory as a result of the preliminary calibration by measuring the capacitances of the capacitors of the sensing element, immersed to an arbitrary fixed level in a homogeneous medium with an arbitrary dielectric permittivity, and obtaining a ratio of the values of the parasitic capacitances of the sensitive element.EFFECT: improving the accuracy of measuring the dielectric interface level.3 cl, 7 dwg Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения уровней границ раздела диэлектрических сред в различных отраслях промышленности - нефтеперерабатывающей, газовой, химической и др. Способ измерения уровней границ раздела сред включает погружение в измеряемую среду чувствительного элемента, выполненного в виде независимых конденсаторов, электроды которых расположены вдоль общей оси и отличаются длиной, измерение емкостей упомянутых конденсаторов, определение уровня границы раздела с учетом соотношения емкостей конденсаторов чувствительного элемента. С целью повышения точности измерения уровня границы раздела сред способ получения значения уровня учитывает соотношения паразитных емкостей конденсаторов чувствительного элемента, полученного и сохраненного в памяти в результате выполнения предварительной калибровки путем измерения емкостей конденсаторов чувствительного элемента, погруженного до произвольного зафиксированного уровня в однородную среду с произвольной диэлектрической проницаемостью, и получения соотношения величин паразитных емкостей чувствительного элемента. 2 з.п. ф-лы, 7 ил.