APPROXIMATION METHOD FOR DEFINITION OF GEOMETRIC SIZES OF DISCONTINUITIES IN FERROMAGNETIC PRODUCTS AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION
FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: group of inventions is implemented as a device containing a magnetizing unit, Hall sensors, amplifiers, ADCs and processing unit where they register and determine the maximum values of axial and azimuthal components of defect scattering field, the width and the...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: group of inventions is implemented as a device containing a magnetizing unit, Hall sensors, amplifiers, ADCs and processing unit where they register and determine the maximum values of axial and azimuthal components of defect scattering field, the width and the length of the defect. Using the algorithm and the database of signals from defects, they determine the parameters of the defect, the signals of which are closest to the measured ones, and these parameters are considered to be the parameters of the measured defect.EFFECT: improving the accuracy of determining the parameters of defects.2 cl, 3 dwg
Группа изобретений может быть использована для определения геометрических размеров дефектов сплошности в ферромагнитном изделии, а также для разработки алгоритмов программного обеспечения магнитных дефектоскопов. Группа изобретений реализуется в виде устройства, содержащего блок намагничивания, датчики Холла, усилитель, АЦП и блок обработки, где фиксируются и определяются максимальные значения осевой и азимутальной составляющих поля рассеяния дефекта, ширина и длина дефекта. Используя алгоритм и базы данных сигналов от дефектов, определяют параметры дефекта, сигналы которого наиболее близки к измеренным, и эти параметры считают параметрами измеряемого дефекта. Технический результат - повышение точности определения параметров дефектов. 2 н.п. ф-лы, 3 ил. |
---|