DEVICE FOR NON-CONTACT MEASUREMENT OF THE OBJECT TEMPERATURE
FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: device includes a focusing optical system (2), a photodetector (1) combined with an image of the object measurement area (4) (5), at least three semiconductor emitters (3) of the visible spectrum range located around the optical axis of the focusing optical syst...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: device includes a focusing optical system (2), a photodetector (1) combined with an image of the object measurement area (4) (5), at least three semiconductor emitters (3) of the visible spectrum range located around the optical axis of the focusing optical system (2). Semiconductor emitters (3) of the visible range of the radiation spectrum are located along the image boundary of the measured area (4) of the object (5).EFFECT: increasing the accuracy and reproducibility of the results of measurements of the object temperature by radiation methods due to accurate reproduction of the contour of the measured area on the surface of the object.6 cl, 2 dwg
Изобретение относится к оптоэлектронным измерительным устройствам и может быть использовано для бесконтактного измерения температуры объекта по его излучению. Устройство включает фокусирующую оптическую систему (2), фотодетектор (1), совмещенный с изображением измеряемой области (4) объекта (5), по меньшей мере три полупроводниковых излучателя (3) видимого диапазона спектра, расположенных вокруг оптической оси фокусирующей оптической системы (2). Полупроводниковые излучатели (3) видимого диапазона спектра излучения расположены по границе изображения измеряемой области (4) объекта (5). Технический результат - повышение точности и воспроизводимости результатов измерений температуры объекта радиационными методами за счет точного воспроизведения (визуализации) контура измеряемой области на поверхности объекта. 5 з.п. ф-лы, 2 ил. |
---|