METHOD OF GROWING SILICON-GERMANIUM HETEROSTRUCTURES

FIELD: chemistry.SUBSTANCE: invention relates to technology of epitaxy of silicon-germanium heterostructures based on combined sublimation of silicon from surface of silicon source, heated by electric current, and germanium deposition of germane in one vacuum chamber, and can be used for production...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: DENISOV SERGEJ ALEKSANDROVICH, SHENGUROV VLADIMIR GENNADEVICH, CHALKOV VADIM YUREVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: chemistry.SUBSTANCE: invention relates to technology of epitaxy of silicon-germanium heterostructures based on combined sublimation of silicon from surface of silicon source, heated by electric current, and germanium deposition of germane in one vacuum chamber, and can be used for production of semiconductor structures. Method of growing silicon-germanium heterostructures by evaporation of a sublimation plate made from silicon or silicon with dopant and heated as a result of passing electric current through it, and germanium deposition from germane gas medium at low pressure in same vacuum chamber growing is performed in conditions of directed inflow of germane on said sublimation plate in a vacuum chamber and with maintenance of growth rate of layer of silicon-germanium solid solution determined depending on temperature of heating said sublimation plate and heating temperature of substrate, selected from interval of 300-400 °C.EFFECT: technical effect consists in development of a method, based on silicon sublimation in germane medium, for combined growing of highly-stable low-defect silicon-germanium heterostructures with improved controllability of growing process, at level of creation of mode base for implementation of program-controlled growth process of high-quality heterostructures.4 cl, 2 dwg Изобретение относится к технологии эпитаксии кремний-германиевой гетероструктуры, основанной на сочетании сублимации кремния с поверхности источника кремния, разогретого электрическим током, и осаждения германия из германа в одной вакуумной камере, и может быть использовано для производства полупроводниковых структур. Технический результат изобретения - разработка основанного на сублимации кремния в среде германа способа комбинированного выращивания высокостабильной малодефектной кремний-германиевой гетероструктуры с улучшенной контролируемостью процесса выращивания, на уровне создания режимной основы реализации программно-управляемого технологического процесса роста высококачественной гетероструктуры. В способе выращивания кремний-германиевой гетероструктуры путем испарения сублимационной пластины, выполненной из кремния или кремния с легирующей примесью и нагреваемой в результате пропускания через нее электрического тока, и одновременного осаждения германия из газовой среды германа при низком давлении в одной вакуумной камере выращивание ведут в условиях направленного напуска германа на упомянутую сублимационную пластину в вакуумной камере и при поддер