METHOD OF DETERMINING MULLER MATRIX

FIELD: measuring equipment.SUBSTANCE: invention relates to optical measurements and can be used for complete polarisation state determination of light reflected from surface of analysed sample. To determine Muller matrix, analysed sample is illuminated with polarised light beam and measuring change in polarization using separation of reflected beam on p- and s-component with decomposition of amplitude and phase to obtain at outlet of four light beams with intensities I, I, I, I, wherein azimuth angles of optical elements receiving fixed values in certain combinations, polariser is fixed in positions P = 0°, -45°, +45°, analyzer in amplitude channel A= 0°, 45°, phase channel A= 45°, Fresnel rhombus R = 0 and measurements corresponding to following configurations: A: P45SR0W45W45; B: P45SR0W0W45; F: P0SR0W45W45; E: P0SR0W0W45. Change state of polarisation of incident light on specimen with linear on circular, each optical channel before sample retarder in position D = 0° and measurements corresponding configurations C: P-45D0SR0W0WΔ45; D: P-45D0SR0W45W45, while components of Muller matrix Sis determined by solving system of linear equations.EFFECT: invention enables complete determining polarisation state of light reflected from surface of analysed sample, for location of all components of Muller matrix.1 cl, 1 dwg Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для полного определения состояния поляризации света, отраженного от поверхности исследуемого образца. Для определения матрицы Мюллера, исследуемый образец освещают поляризованным световым пучком и измеряют изменение поляризации при отражении, используя разделение отраженного луча на р- и s- компоненты с разложением по амплитуде и фазе, получая на выходе четыре световых пучка с интенсивностями I, I, I, I, при этом азимутальные углы оптических элементов принимают фиксированные значения в определенных комбинациях, поляризатор фиксируют в положениях Р=0°, -45°, +45°, анализатор в амплитудном канале А=0°, 45°, фазовом канале А=45°, ромб Френеля R=0 и проводят измерения, соответствующие следующим конфигурациям: A: P45SR0W45W45; B: P45SR0W0W45; F: P0SR0W45W45; E: P0SR0W0W45. Изменяют состояние поляризации падающего на образец света с линейной на круговую, устанавливая в оптический тракт перед образцом фазовую пластинку в положении D=0° и проводят измерения, соответствующие конфигурациям: С: P-45D0SR0W0WΔ45; D: P-45D0SR0W45W45, а компоненты матрицы Мюллера Sопределяют, решая си