METHOD OF MAKING PHOTODETECTOR ARRAY

FIELD: physics.SUBSTANCE: in the method of making a photodetector array, a channel with a defined depth is etched on the front side of a photosensitive element before hybridisation. During thinning, when polishing reaches the bottom of the channel, owing to the given width of the depression, there i...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LOPUKHIN ALEKSEJ ALEKSEEVICH, UMNIKOVA ELENA VASIL'EVNA, EROSHENKOV VLADIMIR VLADIMIROVICH, KISELEVA LARISA VASIL'EVNA, VLASOV PAVEL VALENTINOVICH, KOZHARINOVA ELENA ANATOL'EVNA, SAVOSTIN ALEKSANDR VIKTOROVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: physics.SUBSTANCE: in the method of making a photodetector array, a channel with a defined depth is etched on the front side of a photosensitive element before hybridisation. During thinning, when polishing reaches the bottom of the channel, owing to the given width of the depression, there is a sharp change in the size of the base region which can be detected visually. At that instant, thinning is stopped - the obtained crystal has even edges and a fixed size defined by photographic masks under the depression. In order to make a depression after etching indium microcontacts, a thin SiO film is sprayed without removing the lower protective and the upper photoresist. Further, photolithography is performed on SiO using a rectangular photographic mask which opens the place under the depression. Further, the method includes plasma-chemical etching of SiO at the site of the depression and wet chemical etching of the depression directly by the required depth. The photoresist is removed, the remaining SiO film is plasma-chemically etched away and the photoresist remains are removed.EFFECT: thinning the base region of a photosensitive element to obtain the required quality and reproducibility of boundaries and thickness.4 cl, 12 dwg Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых фотоприемников и может использоваться для создания многоэлементных фотоприемников различного назначения. Изобретение обеспечивает утоньшение базовой области фоточувствительного элемента с получением требуемого качества и воспроизводимости границ и толщины. В способе изготовления матричного фотоприемника на лицевой стороне фоточувствительного элемента до гибридизации протравливают канавку определенной глубины. В процессе утоньшения, когда полировка доходит до дна канавки, вследствие заданной ширины углубления происходит резкое изменение габаритов базовой области, которое можно зафиксировать визуально. В этот момент утоньшение прекращают - полученный кристалл имеет ровные края и фиксированный размер, заданный фотошаблонами под углубление. При этом для изготовления углубления после травления индиевых микроконтактов, не снимая нижний защитный и верхний фоторезисты, напыляют тонкую пленку SiO. Далее делают фотолитографию по SiO с помощью прямоугольного фотошаблона, открывающего место под углубление. Затем следует плазмохимическое травление SiO в месте углубления и жидкостное химическое травление непосредственно углубления на требуемую величину. Удаляют фоторезист, плаз