QUARTZ REACTOR TO RESEARCH TEMPERATURE DEPENDENCE OF ELECTRIC RESISTANCE OF HIGHLY RESISTIVE OBJECTS
FIELD: measurement equipment.SUBSTANCE: invention relates to nanoelectronics and nanoelectromechanics. The proposed quartz reactor to research temperature dependence of electric resistance of highly resistive objects, mostly film samples from nanocomposite materials, comprises a body, on the outer s...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: measurement equipment.SUBSTANCE: invention relates to nanoelectronics and nanoelectromechanics. The proposed quartz reactor to research temperature dependence of electric resistance of highly resistive objects, mostly film samples from nanocomposite materials, comprises a body, on the outer surface of which a resistive heater is wound in bifilar manner; inside the body there are C-shaped clamps installed with flat grips for placement of the investigated sample made of tungsten wire and installed on ties made as springs from tungsten wire, besides, in the body wall, in its central part, there is a thermocouple with the possibility to measure temperature of the specified sample placed in C-shaped clamps.EFFECT: increased efficiency of research.1 dwg
Изобретение относится к наноэлектронике и наноэлектромеханике. Заявленный кварцевый реактор для исследования температурной зависимости электрического сопротивления высокорезистивных объектов, преимущественно, пленочных образцов из нанокомпозиционных материалов, содержит корпус, на внешней поверхности которого бифилярно намотан резистивный нагреватель; внутри корпуса на растяжках, выполненных в виде пружин из вольфрамовой проволоки, установлены C-образные зажимы с плоскими губками для размещения исследуемого образца, выполненные из вольфрамовой проволоки, причем в стенке корпуса, в центральной его части, установлена термопара с возможностью измерения температуры упомянутого образца, размещаемого в C-образных зажимах. 1 ил. |
---|