METHOD OF VISUALISATION OF ROTATIONAL DISTORSION OF ARRAY OF NANOTHIN CRYSTALS

FIELD: nanotechnologies.SUBSTANCE: method of visualisation of rotational distortion of array of nanothin crystals includes the obtaining of electronic and microscopic image of nanothin crystal in light and dark field, obtaining the electron-diffraction pattern from the crystal, microdiffraction stud...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: PUSHIN VLADIMIR GRIGOR'EVICH, MALKOV ANDREJ VJACHESLAVOVICH, MALKOV OLEG VJACHESLAVOVICH, SHUL'GIN BORIS VLADIMIROVICH, MALKOV VJACHESLAV BORISOVICH, SHVEJKIN GENNADIJ PETROVICH, NIKOLAENKO IRINA VLADIMIROVNA
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: nanotechnologies.SUBSTANCE: method of visualisation of rotational distortion of array of nanothin crystals includes the obtaining of electronic and microscopic image of nanothin crystal in light and dark field, obtaining the electron-diffraction pattern from the crystal, microdiffraction study, analysis of pattern of flexural extinction outlines, present in the electronic and microscopic image of the crystal, calculation of angles of rotation of the crystal array around [001]. The offered method of visualisation of rotational distortion of the array of nanothin crystal allows on the basis of the experimental data obtained by results of study of real structure of the nanothin crystal to construct two-dimensional geometrical object - the array distortion surface for the selected crystallographic direction.EFFECT: simplicity and demonstrativeness of the declared method allow to visualise the rotational distortion of array of the nanothin crystal and to visualise the change of geometry of array of nanothin crystals from Euclidean to Riemannian.10 dwg, 4 tbl Способ визуализации ротационного искривления решетки нанотонких кристаллов включает получение электронно-микроскопического изображения нанотонкого кристалла в светлом и темном поле, получение электронограммы от кристалла, микродифракционное исследование, анализ картины изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопическом изображении кристалла, расчет углов поворота решетки кристалла вокруг [001]. Заявленный способ визуализации ротационного искривления решетки нанотонкого кристалла позволяет на основании экспериментальных данных, полученных при исследовании реальной структуры нанотонкого кристалла, построить двумерный геометрический объект - поверхность искривления решетки для выбранного кристаллографического направления. Простота и наглядность заявляемого способа позволяют визуализировать ротационное искривление решетки нанотонкого кристалла и визуализировать изменение геометрии решетки нанотонких кристаллов от евклидовой к римановой. 10 ил., 4 табл.