METHOD OF NON-DESTRUCTIVE CHECK OF SUBSURFACE STRUCTURE OF SEMI-TRANSPARENT OBJECTS
FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: according to the method, the integrity of the inner structure of semi-transparent objects is determined due to measurement of characteristics of the resulting distribution of intensity of reflected laser radiation in the form of a speckle image. For this purpose the...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: according to the method, the integrity of the inner structure of semi-transparent objects is determined due to measurement of characteristics of the resulting distribution of intensity of reflected laser radiation in the form of a speckle image. For this purpose they determine differences between intensities of speckle images received at the previous and subsequent stages of probing, provided that capacity of the subsequent probings meets the condition of P>P.EFFECT: increased accuracy of detection of parameters of subsurface structure of optically semi-transparent objects and depth of an inner defect in a controlled object.2 dwg
Изобретение относится к способу контроля состояния подповерхностной структуры оптически неоднородных объектов и может быть использовано при анализе вариаций плотности полупрозрачных твердых тел, жидкости и газов. Согласно способу целостность внутренней структуры полупрозрачных объектов определяют за счет измерения характеристик результирующего распределения интенсивности отраженного лазерного излучения в виде спекл-изображения. Для этого определяют разности между интенсивностями спекл-изображений, полученных при предыдущем и последующих этапах зондировании при условии, что мощность последующих зондирований соответствует условию P>P. Технический результат - повышение точности определения параметров подповерхностной структуры оптически полупрозрачных объектов и глубины залегания внутреннего дефекта контролируемого объекта. 2 ил. |
---|