METHOD OF PROFILING ASPHERICAL POLISHED SURFACE

FIELD: physics.SUBSTANCE: profile of a polished aspherical surface of a large optical component is measured using a linear three-point spherometer with an additional lateral height-adjustable leg, which is nullified in a reference aspherical mirror; installing the spherometer with outermost legs per...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ABDULKADYROV MAGOMED ABDURAZAKOVICH, PATRIKEEV VLADIMIR EVGEN'EVICH, SHAROV JURIJ ANATOL'EVICH, SEMENOV ALEKSANDR PAVLOVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: physics.SUBSTANCE: profile of a polished aspherical surface of a large optical component is measured using a linear three-point spherometer with an additional lateral height-adjustable leg, which is nullified in a reference aspherical mirror; installing the spherometer with outermost legs perpendicular to the diametrical section in the peripheral area of the component; moving the spherometer with the outermost legs into an area in which the central leg with an indicator was previously located; continuing the process of taking readings of the indicator to the centre of the component or to the centre opening of the component and then, based on geometric ratios, constructing the absolute profile of deviations of the surface from a given (theoretical) profile with the required vertex radius and eccentricity and the necessary allowance.EFFECT: constructing the absolute profile of deviations of the shape of an aspherical surface of an optical component from the required theoretical shape with the necessary accuracy and achieving the required value of the vertex radius during shaping.4 dwg Изобретение относится к механическим средствам измерения контуров и профилей и может быть использовано при формообразовании асферических поверхностей крупногабаритных оптических деталей, в частности при контроле параметров крупногабаритных зеркал телескопов. Для измерения профиля шлифованной асферической поверхности крупногабаритной оптической детали используют линейный трехточечный сферометр с дополнительной боковой регулируемой по высоте ножкой, который обнуляют на эталонном сферическом зеркале, устанавливают крайними ножками перпендикулярно диаметральному сечению в краевую зону детали, перемещают сферометр крайними ножками в зону, в которой до этого располагалась центральная ножка с индикатором, процесс снятия показаний индикатора продолжают до центра детали или до центрального отверстия детали и затем на основании геометрических соотношений строят абсолютный профиль отклонений поверхности от заданного (теоретического) профиля с требуемым вершинным радиусом и эксцентриситетом и необходимым допуском на них. Техническим результатом изобретения является построение абсолютного профиля отклонений формы асферической поверхности оптической детали от требуемой теоретической с необходимой точностью и достижение требуемого значения вершинного радиуса в процессе формообразования. 4 ил.