METHOD OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS
FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: invention relates to metallographic analysis of steel and to determination of 3D surface topography and its structure by scanning probe microscopy (SPM) Proposed method comprises grinding, polishing and chemical or electrochemical etching of steel specimen and, then...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; rus |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH BALIZH KIRILL SERGEEVICH USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH |
| description | FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: invention relates to metallographic analysis of steel and to determination of 3D surface topography and its structure by scanning probe microscopy (SPM) Proposed method comprises grinding, polishing and chemical or electrochemical etching of steel specimen and, then, surface scanning by SPM. As said SPM can be applied nuclear power scanning, scanning tunnel and optical hear-field scanning combined with nuclear power scanning. Scanning results for metallographic conclusion, specimen structural elements are identified and classified subject to their shape and depth related with etching rate defined by their structure.EFFECT: higher resolution and precision.16 cl, 5 dwg
Изобретение относится к методам металлографического анализа образцов стали и определения трехмерной топографии поверхности и ее структуры при помощи сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Согласно способу проводится шлифовка, полировка и либо химическое, либо электрохимическое травление образца стали, а затем сканирование поверхности образца с помощью СЗМ. В качестве СЗМ могут использоваться атомно-силовые сканирующие (АСМ), а также сканирующие туннельные (СТМ) и оптические ближнепольные сканирующие (СБОМ), совмещенные с АСМ. По результатам сканирования для металлографического заключения производится идентификация и классификация структурных элементов образца в зависимости от их формы и глубины, которые связаны со скоростью травления этих структурных элементов, определяемой их строением. Технический результат - повышение разрешающей способности, точности и информативности металлографического анализа. 15 з.п. ф-лы, 5 ил. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_RU2522724C2</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>RU2522724C2</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_RU2522724C23</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZFD0dQ3x8HdR8HdTALIcfXz83YMcAzw8nRUc_Rx9IoM9g3kYWNMSc4pTeaE0N4OCm2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXxQqJGpkZG5kYmzkTERSgDZ_SHw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS</title><source>esp@cenet</source><creator>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH ; MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH ; SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH ; ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA ; UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH ; DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH ; PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH ; BALIZH KIRILL SERGEEVICH ; USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH ; BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</creator><creatorcontrib>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH ; MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH ; SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH ; ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA ; UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH ; DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH ; PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH ; BALIZH KIRILL SERGEEVICH ; USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH ; BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</creatorcontrib><description>FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: invention relates to metallographic analysis of steel and to determination of 3D surface topography and its structure by scanning probe microscopy (SPM) Proposed method comprises grinding, polishing and chemical or electrochemical etching of steel specimen and, then, surface scanning by SPM. As said SPM can be applied nuclear power scanning, scanning tunnel and optical hear-field scanning combined with nuclear power scanning. Scanning results for metallographic conclusion, specimen structural elements are identified and classified subject to their shape and depth related with etching rate defined by their structure.EFFECT: higher resolution and precision.16 cl, 5 dwg
Изобретение относится к методам металлографического анализа образцов стали и определения трехмерной топографии поверхности и ее структуры при помощи сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Согласно способу проводится шлифовка, полировка и либо химическое, либо электрохимическое травление образца стали, а затем сканирование поверхности образца с помощью СЗМ. В качестве СЗМ могут использоваться атомно-силовые сканирующие (АСМ), а также сканирующие туннельные (СТМ) и оптические ближнепольные сканирующие (СБОМ), совмещенные с АСМ. По результатам сканирования для металлографического заключения производится идентификация и классификация структурных элементов образца в зависимости от их формы и глубины, которые связаны со скоростью травления этих структурных элементов, определяемой их строением. Технический результат - повышение разрешающей способности, точности и информативности металлографического анализа. 15 з.п. ф-лы, 5 ил.</description><language>eng ; rus</language><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20140720&DB=EPODOC&CC=RU&NR=2522724C2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20140720&DB=EPODOC&CC=RU&NR=2522724C2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA</creatorcontrib><creatorcontrib>UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>BALIZH KIRILL SERGEEVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</creatorcontrib><title>METHOD OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS</title><description>FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: invention relates to metallographic analysis of steel and to determination of 3D surface topography and its structure by scanning probe microscopy (SPM) Proposed method comprises grinding, polishing and chemical or electrochemical etching of steel specimen and, then, surface scanning by SPM. As said SPM can be applied nuclear power scanning, scanning tunnel and optical hear-field scanning combined with nuclear power scanning. Scanning results for metallographic conclusion, specimen structural elements are identified and classified subject to their shape and depth related with etching rate defined by their structure.EFFECT: higher resolution and precision.16 cl, 5 dwg
Изобретение относится к методам металлографического анализа образцов стали и определения трехмерной топографии поверхности и ее структуры при помощи сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Согласно способу проводится шлифовка, полировка и либо химическое, либо электрохимическое травление образца стали, а затем сканирование поверхности образца с помощью СЗМ. В качестве СЗМ могут использоваться атомно-силовые сканирующие (АСМ), а также сканирующие туннельные (СТМ) и оптические ближнепольные сканирующие (СБОМ), совмещенные с АСМ. По результатам сканирования для металлографического заключения производится идентификация и классификация структурных элементов образца в зависимости от их формы и глубины, которые связаны со скоростью травления этих структурных элементов, определяемой их строением. Технический результат - повышение разрешающей способности, точности и информативности металлографического анализа. 15 з.п. ф-лы, 5 ил.</description><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFD0dQ3x8HdR8HdTALIcfXz83YMcAzw8nRUc_Rx9IoM9g3kYWNMSc4pTeaE0N4OCm2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSXxQqJGpkZG5kYmzkTERSgDZ_SHw</recordid><startdate>20140720</startdate><enddate>20140720</enddate><creator>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH</creator><creator>MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH</creator><creator>SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH</creator><creator>ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA</creator><creator>UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH</creator><creator>DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH</creator><creator>PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH</creator><creator>BALIZH KIRILL SERGEEVICH</creator><creator>USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH</creator><creator>BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20140720</creationdate><title>METHOD OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS</title><author>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH ; MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH ; SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH ; ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA ; UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH ; DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH ; PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH ; BALIZH KIRILL SERGEEVICH ; USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH ; BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_RU2522724C23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus</language><creationdate>2014</creationdate><topic>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA</creatorcontrib><creatorcontrib>UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>BALIZH KIRILL SERGEEVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TSYGANOV ALEKSANDR BORISOVICH</au><au>MAL'TSEV ANDREJ ANATOL'EVICH</au><au>SEN'KOVSKIJ BORIS VLADIMIROVICH</au><au>ADAMCHUK VERA KONSTANTINOVNA</au><au>UL'JANOV PAVEL GENNAD'EVICH</au><au>DOBROTVORSKIJ ALEKSANDR MSTISLAVOVICH</au><au>PUSHKO SERGEJ VJACHESLAVOVICH</au><au>BALIZH KIRILL SERGEEVICH</au><au>USACHEV DMITRIJ JUR'EVICH</au><au>BYKOV VIKTOR ALEKSANDROVICH</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS</title><date>2014-07-20</date><risdate>2014</risdate><abstract>FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: invention relates to metallographic analysis of steel and to determination of 3D surface topography and its structure by scanning probe microscopy (SPM) Proposed method comprises grinding, polishing and chemical or electrochemical etching of steel specimen and, then, surface scanning by SPM. As said SPM can be applied nuclear power scanning, scanning tunnel and optical hear-field scanning combined with nuclear power scanning. Scanning results for metallographic conclusion, specimen structural elements are identified and classified subject to their shape and depth related with etching rate defined by their structure.EFFECT: higher resolution and precision.16 cl, 5 dwg
Изобретение относится к методам металлографического анализа образцов стали и определения трехмерной топографии поверхности и ее структуры при помощи сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Согласно способу проводится шлифовка, полировка и либо химическое, либо электрохимическое травление образца стали, а затем сканирование поверхности образца с помощью СЗМ. В качестве СЗМ могут использоваться атомно-силовые сканирующие (АСМ), а также сканирующие туннельные (СТМ) и оптические ближнепольные сканирующие (СБОМ), совмещенные с АСМ. По результатам сканирования для металлографического заключения производится идентификация и классификация структурных элементов образца в зависимости от их формы и глубины, которые связаны со скоростью травления этих структурных элементов, определяемой их строением. Технический результат - повышение разрешающей способности, точности и информативности металлографического анализа. 15 з.п. ф-лы, 5 ил.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; rus |
| recordid | cdi_epo_espacenet_RU2522724C2 |
| source | esp@cenet |
| subjects | APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS TESTING |
| title | METHOD OF METALLOGRAPHIC ANALYSIS |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-31T15%3A21%3A24IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=TSYGANOV%20ALEKSANDR%20BORISOVICH&rft.date=2014-07-20&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ERU2522724C2%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |