METHOD FOR EVALUATING GAMMA-PERCENTILE LIFE OF PRODUCT BY RESULTS OF NONDESTRUCTIVE CHECK USING TEST SAMPLES WITH HIDDEN DEFECTS
FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: gamma-percentile life of a product is defined basing on the results of ultrasound, eddy current, radiographic and other methods of nondestructive check of material defects of a product or of group of products. The method is based on the evaluation of residual defect...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: instrumentation.SUBSTANCE: gamma-percentile life of a product is defined basing on the results of ultrasound, eddy current, radiographic and other methods of nondestructive check of material defects of a product or of group of products. The method is based on the evaluation of residual defectiveness using a test sample with hidden defects.EFFECT: possibility to evaluate the actual defectiveness of a product after check and repair of the revealed defects and definition of the actual level of gamma-percentile life of a product before it is destructed or damaged in operation.2 cl, 5 dwg
Изобретение относится к методам испытаний, в частности к методам неразрушающего контроля. Гамма-процентный ресурс изделия определяют по результатам ультразвукового, вихретокового, радиографического и прочих методов неразрушающего контроля дефектов материала изделия или группы изделий. Способ основан на оценке остаточной дефектности с использованием тест-образца со скрытыми дефектами. Достигается возможность оценки реальной дефектности изделия после контроля и ремонта выявленных дефектов и определения фактического уровня гамма-процентного ресурса изделия до того, как оно разрушится или повредится в эксплуатации. 1 з.п. ф-лы, 5 ил. |
---|