METHOD FOR X-RAY DIFFRACTION CONTROL OF PART

FIELD: measurement equipment.SUBSTANCE: X-ray picture is taken off a controlled part, a parameter is determined, which depends on part running time, at the same time X-ray picture taking off the controlled part on the suggested surface of damage is carried out from the reflecting plane (11.0) without background with usage of titanium radiation Ti-Kand from the reflecting plane (01.3) without background with usage of titanium radiation Ti-K, at the same time the parameter depending on running time is the integrated structural parameter ?, defined as the product of the diffraction line width B parameter without background and diffraction line profile P parameter without background: ?=B·P, besides, the part is of good quality, if the integrated structural parameter is more than 1: ?>1.EFFECT: reduced time of part monitoring, both in process of operation and at the stage of endurance testing of a part and process mobility.3 cl, 10 dwg Использование: для рентгеноструктурного контроля детали. Сущность: заключается в том, что осуществляют снятие рентгенограммы с контролируемой детали, выполняют определение параметра, зависящего от наработки детали, при этом снятие рентгенограммы с контролируемой детали на предполагаемой поверхности разрушения происходит от отражающей плоскости (11.0) без фона при использовании титанового излучения Ti-Kи от отражающей плоскости (01.3) без фона при использовании титанового излучения Ti-K, при этом в качестве параметра, зависящего от наработки, используют интегрированный структурный параметр Δ, определяемый как произведение параметра ширины В дифракционной линии без фона и параметра профиля Р дифракционной линии без фона: Δ=В·Р, причем деталь является годной, если интегрированный структурный параметр будет больше 1:Δ>1. Технический результат: сокращение времени контроля детали, как в процессе эксплуатации, так и на этапе ресурсных испытаний детали, а также мобильность процесса. 2 з.п. ф-лы, 2 табл., 10 ил.