APPARATUS FOR MEASURING SURFACE FORM OF THREE-DIMENSIONAL OBJECT

FIELD: physics.SUBSTANCE: apparatus for measuring the surface form of a three-dimensional object in coordinates X, Y, Z has an array of probes, in the bottom part of which a detecting head is rigidly mounted, and in the top part there is a light-reflecting element, placed in a holder with multiple g...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LEVIN GENNADIJ GENRIKHOVICH, VISHNJAKOV GENNADIJ NIKOLAEVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: physics.SUBSTANCE: apparatus for measuring the surface form of a three-dimensional object in coordinates X, Y, Z has an array of probes, in the bottom part of which a detecting head is rigidly mounted, and in the top part there is a light-reflecting element, placed in a holder with multiple guides lying in nodes of a two-dimensional grid with known coordinates of the points of contact of detecting heads of each probe relative the centre of the holder, which enable each probe to freely move along the axis Z, wherein the two-dimensional grid can have an arbitrary geometric form. The apparatus also includes a mechanism for moving the three-dimensional object and the holder in order to calculate the surface form of the original object based on data on coordinates X, Y, Z, a computer, a flat support optical element, an optical device in form of an interferometer for measuring distance in the Z direction between the reflecting surface of the probes and the flat support optical element, having a coherent light source, an optical system which forms a wide parallel light beam whose diameter is larger than the size of the region of the two-dimensional grid, a beam splitter, a photodetector array on which an image of the light-reflecting elements from the array of probes is formed using a lens.EFFECT: enabling measurement of the surface form of three-dimensional objects in motion and high measurement accuracy.36 cl, 4 dwg Изобретение относится к измерительной технике, а именно к профилометрии, топографии. Устройство для измерения формы поверхности трехмерного объекта в координатах X, Y, Z включает матрицу зондов, в нижней части которых жестко закреплен щуп, а в верхней части - светоотражательный элемент, размещенных в обойме с множеством направляющих, расположенных в узлах двумерной сетки с известными координатами точек контакта щупов каждого зонда относительно центра обоймы, позволяющих каждому зонду свободно двигаться вдоль оси Z, причем двумерная сетка может быть произвольной геометрической формы. Также включает механизм перемещения трехмерного объекта и обоймы для вычисления формы поверхности исходного объекта на основании данных о координатах X, Y, Z, ЭВМ, плоский опорный оптический элемент, оптическое устройство в виде интерферометра для измерения расстояния в Z направлении между отражательной поверхностью зондов и плоским опорным оптическим элементом, содержащее источник когерентного света, оптическую систему, формирующую широкий параллельный пучок свет