DEVICE AND PROCEDURE FOR THICKNESS MEASUREMENT
FIELD: machine building. ^ SUBSTANCE: device for thickness measurement consists of non-contact metre and of control unit. Also, the metre operates by means of laser or optical sensor and measures distribution of liquid or gel-like metal or steel melt by width of a crystalliser, while the control uni...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: machine building. ^ SUBSTANCE: device for thickness measurement consists of non-contact metre and of control unit. Also, the metre operates by means of laser or optical sensor and measures distribution of liquid or gel-like metal or steel melt by width of a crystalliser, while the control unit generates a signal of control of device for melt distribution on base of the signal from the metre. ^ EFFECT: manufacture of strips or profiles with uniform dimensions and properties of material. ^ 5 cl, 3 dwg
Изобретение относится к устройству и способу измерения толщины, в частности, для использования в установках для разливки полосы или профильной заготовки с измерительным устройством. Сущность: устройство для измерения толщины содержит бесконтактное измерительное устройство и блок управления. При этом измерительное устройство работает с помощью лазера или оптического датчика и выполнено с возможностью измерения распределения толщины жидкого или тестообразного металлического или стального расплава по ширине кристаллизатора, а блок управления на основе сигнала от измерительного устройства формирует сигнал управления устройством распределения расплава. Технический результат: обеспечение изготовления полос или профилей с однородными размерами и свойствами материала. 2 н. и 3 з.п. ф-лы, 3 ил. |
---|