METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS

FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH, KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH
KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH
description FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_RU2422941C2</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>RU2422941C2</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_RU2422941C23</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNyjsOwjAQBUA3FAi4w7sABSYNpVl_BbYlstRRFC0VgkiG-0PBAaimmaWy2XGsFtUjm1MqATXmRKBa2BCDK8JoGo6md99VwDEVBIEpFvSGT-fcr9XiNt6bbH6uFLxjiluZn4O0eZzkIa_hctWd1oduR3r_R_kAxfwq9g</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><source>esp@cenet</source><creator>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH ; KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creator><creatorcontrib>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH ; KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creatorcontrib><description>FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><language>eng ; rus</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2011</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20110627&amp;DB=EPODOC&amp;CC=RU&amp;NR=2422941C2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76419</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20110627&amp;DB=EPODOC&amp;CC=RU&amp;NR=2422941C2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creatorcontrib><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><description>FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2011</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyjsOwjAQBUA3FAi4w7sABSYNpVl_BbYlstRRFC0VgkiG-0PBAaimmaWy2XGsFtUjm1MqATXmRKBa2BCDK8JoGo6md99VwDEVBIEpFvSGT-fcr9XiNt6bbH6uFLxjiluZn4O0eZzkIa_hctWd1oduR3r_R_kAxfwq9g</recordid><startdate>20110627</startdate><enddate>20110627</enddate><creator>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</creator><creator>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20110627</creationdate><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><author>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH ; KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_RU2422941C23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus</language><creationdate>2011</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</au><au>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><date>2011-06-27</date><risdate>2011</risdate><abstract>FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; rus
recordid cdi_epo_espacenet_RU2422941C2
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
SEMICONDUCTOR DEVICES
title METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-07T15%3A54%3A03IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=EROFEEV%20EVGENIJ%20VIKTOROVICH&rft.date=2011-06-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ERU2422941C2%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true