METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS
FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH |
description | FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_RU2422941C2</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>RU2422941C2</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_RU2422941C23</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNyjsOwjAQBUA3FAi4w7sABSYNpVl_BbYlstRRFC0VgkiG-0PBAaimmaWy2XGsFtUjm1MqATXmRKBa2BCDK8JoGo6md99VwDEVBIEpFvSGT-fcr9XiNt6bbH6uFLxjiluZn4O0eZzkIa_hctWd1oduR3r_R_kAxfwq9g</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><source>esp@cenet</source><creator>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH ; KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creator><creatorcontrib>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH ; KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creatorcontrib><description>FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><language>eng ; rus</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2011</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20110627&DB=EPODOC&CC=RU&NR=2422941C2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76419</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20110627&DB=EPODOC&CC=RU&NR=2422941C2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creatorcontrib><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><description>FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2011</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNyjsOwjAQBUA3FAi4w7sABSYNpVl_BbYlstRRFC0VgkiG-0PBAaimmaWy2XGsFtUjm1MqATXmRKBa2BCDK8JoGo6md99VwDEVBIEpFvSGT-fcr9XiNt6bbH6uFLxjiluZn4O0eZzkIa_hctWd1oduR3r_R_kAxfwq9g</recordid><startdate>20110627</startdate><enddate>20110627</enddate><creator>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</creator><creator>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20110627</creationdate><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><author>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH ; KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_RU2422941C23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; rus</language><creationdate>2011</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</creatorcontrib><creatorcontrib>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>EROFEEV EVGENIJ VIKTOROVICH</au><au>KAGADEJ VALERIJ ALEKSEEVICH</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS</title><date>2011-06-27</date><risdate>2011</risdate><abstract>FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: method of making an ohmic contact to GaAs based on thin Ge and Cu films involves formation a mask on the surface of an n-GaAs wafer in order to perform lift-off lithography, deposition of thin Ge and Cu films onto the surface of the n-GaAs wafer, first thermal treatment in a single vacuum cycle with the deposition process, removing the n-GaAs wafer from the vacuum chamber, removing the mask and second thermal treatment. First thermal treatment is carried out in an atmosphere of atomic hydrogen at temperature 150-460C and hydrogen atom flux density on the surface of the n-GaAs wafer equal to 1013-1016 at.cm2 s-1. ^ EFFECT: low value of the reduced contact resistance of the ohomic contacts made. ^ 4 cl, 1 dwg
Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к технологии получения дискретных приборов и интегральных схем на основе полупроводниковых соединений AIIIBV. Изобретение обеспечивает уменьшение величины приведенного контактного сопротивления изготовленных омических контактов. Сущность изобретения: в способе изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu, включающем создание на поверхности пластины n-GaAs маски для реализации процесса обратной литографии, осаждение тонких пленок Ge и Cu на поверхность пластины n-GaAs, первую термообработку в едином вакуумном цикле с процессом осаждения, извлечение пластины n-GaAs из вакуумной камеры, удаление маски и вторую термообработку, первую термообработку производят в атмосфере атомарного водорода при температуре от 150 до 460°С и плотности потока атомов водорода на поверхность пластины n-GaAs, равной 1013-1016 ат·см2·с-1. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | eng ; rus |
recordid | cdi_epo_espacenet_RU2422941C2 |
source | esp@cenet |
subjects | BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES |
title | METHOD OF MAKING OHMIC CONTACT TO GaAs BASED ON THIN Ge AND Cu FILMS |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-07T15%3A54%3A03IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=EROFEEV%20EVGENIJ%20VIKTOROVICH&rft.date=2011-06-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ERU2422941C2%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |