STAND FOR STUDYING MICROCONTROLLER CONTROL SYSTEMS

FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: stand also includes a group of peripheral test and simulating devices, consisting of a source of harmonic signals with controlled amplitude and frequency, a source of pulsed signals with controlled frequency and pulse ratio, a potentiometre and a first-order integrating RC circuit with variable parametres. Combinatorial functions of the stand are provided by presence of a connecting field, one group of leads of which is connected to microcontroller leads, while the other groups of leads are connected to leads of user interface devices and to leads of test and simulating devices. Leads belonging to all groups can be connected to each other in given combinations using detachable electroconductive jumpers and can also be connected to external stands and contact calipers of external measurement and testing apparatus. ^ EFFECT: broader functional and combinatorial capabilities of the stand. ^ 3 cl, 1 dwg Данное изобретение относится к средствам обучения и является аппаратным оснащением процесса обучения разработке микроконтроллерных систем управления. Технический результат заключается в расширении функциональных и комбинаторных возможностей стенда. Указанный технический результат достигается тем, что стенд дополнительно содержит группу периферийных тестовых и имитирующих устройств, состоящую из источника гармонических сигналов с регулируемой амплитудой и частотой, источника импульсных сигналов с регулируемой частотой и скважностью, потенциометра и интегрирующего RC-звена первого порядка с изменяемыми параметрами. Комбинаторные возможности стенда обеспечиваются наличием коммутационного поля, одна группа выводов которого связана с выводами микроконтроллера, а другие группы выводов связаны с выводами пользовательских интерфейсных устройств и с выводами тестовых и имитирующих устройств. При этом выводы, принадлежащие всем группам, выполнены с обеспечением возможности соединения между собой в заданных комбинациях с помощью съемных электропроводящих перемычек и подключения к ним внешних стендов и контактных щупов внешних контрольно-измерительных приборов. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.