METHOD OF TESTING RELIABILITY OF INFRARED MULTI-ELEMENT PHOTODETECTOR

FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: invention is designed for testing reliability of infrared multi-element photodetectors in which the matrix of photosensitive elements is placed inside a sealed housing, docked with a multiplexer or raster using conducting indium micro-columns, and its operating temperature is lower than ambient temperature. In order to test reliability of infrared multi-element photodetectors, accumulative operating time of the device is given for given ambient temperature values and maximum time of continuous operation of the device. Non-failure operating time is achieved through cycles involving attaining working temperature of the device, switching on the device by not less than one second, switching off the device and raising its working temperature to a given ambient temperature value. The number of cycles is determined from the ratio of the accumulative operating time to the given maximum time for continuous operation of the device. After the non-failure operating time, the control photoelectric parametre is measured at operating temperature of the device. The criterion of failure is fall of the value of the parametre blow a given value. ^ EFFECT: shorter testing time. ^ 2 dwg Изобретение предназначено для испытания безотказности инфракрасных многоэлементных фотоприемных устройств (ИК МФПУ), в которых матрица фоточувствительных элементов установлена внутри герметизированного корпуса, стыкуется с мультиплексором или растром с помощью проводящих индиевых микростолбиков, а ее рабочая температура ниже температуры окружающей среды. Сущность изобретения: для испытания безотказности ИК МФПУ задают продолжительность суммарной наработки устройства при заданных температурах внешней среды и максимальное время непрерывной работы устройства. Наработку осуществляют циклами, состоящими из выхода устройства на рабочую температуру, включения устройства не менее чем на одну секунду, выключения устройства и повышения его рабочей температуры до заданной температуры внешней среды. При этом количество циклов определяют из отношения продолжительности суммарной наработки к заданному максимальному времени непрерывной работы устройства. После наработки измеряют контролируемый фотоэлектрический параметр при рабочей температуре устройства. Критерием отказа является ухудшение значения параметра ниже заданной величины. Задачей изобретения является сокращение времени испытания. 2 ил.