DEVICE FOR MEASUREMENT OF MATERIAL PARAMETRES
FIELD: radio engineering. ^ SUBSTANCE: invention is related to the field of radio engineering and electronics and may be used both independently for measurement of electrophysical parametres of materials and as more complex functional devices: complex measurement systems, complex systems for product...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: radio engineering. ^ SUBSTANCE: invention is related to the field of radio engineering and electronics and may be used both independently for measurement of electrophysical parametres of materials and as more complex functional devices: complex measurement systems, complex systems for production and control of material parametres, automated measurement, production and production-measurement complexes, etc. Device, according to invention, represents a rectangular wave guide with connected SHF generator, having shorting device 2, measurement device. Device comprises pin 3, installed in central part on one of wide walls of wave guide 1 parallel to shorting device 2. Height of pin h is less than size of wave guide b, so that between pin and other wide wall there is a gap. Shorting device 2 has a semicircular indent 4 on surface inverted inside wave guide, being parallel to pin along the whole width, and hole 5, probe in the form of needle 6 is coaxially installed in indent, being galvanically connected by means of connection loop 7 to shorting device 2, protruding beyond limits of wave guide 1. Distance from pin 3 to shorting device 2 and value of gap are selected on the basis of resonance appearance with low reflection ratio. ^ EFFECT: invention provides for simultaneous measurement of electrophysical material parametres: dielectric permeability in the range of 1,5400, conductivity in the range of 210-2 Ohm-1 m-1107 Ohm-1m-1. ^ 1 dwg, 1 tbl, 1 ex
Изобретение относится к области радиотехники и электроники и может быть использовано как самостоятельно для измерения электрофизических параметров материалов, так и в качестве более сложных функциональных устройств: комплексных измерительных систем, комплексных систем по производству и контролю параметров материалов, автоматизированных измерительных, производственных и производственно-измерительных комплексов и т.д. Устройство согласно изобретению представляет собой прямоугольный волновод с подключенный к нему СВЧ-генератором, имеющий короткозамыкатель 2, измерительное устройство. Устройство содержит штырь 3, установленный в центральной части на одной из широких стенок волновода 1 параллельно короткозамыкателю 2. Высота штыря h меньше размера волновода b, так что между штырем и другой широкой стенкой имеется зазор. Короткозамыкатель 2 имеет на поверхности, обращенной внутрь волновода, полукруглую выемку 4, по всей его ширине параллельную штырю, и отверстие 5, в выемке коаксиально расположен зонд в виде иглы 6, |
---|