HEAT CHAMBER FOR TESTING ELECTRONIC PARTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KOSTIN SERGEJ V, SHILENKOV MIKHAIL E, KOBELEV NIKOLAJ S, KOBELEV ANDREJ N
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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