PROCESS OF REJECTION OF COS/MOS INTEGRATED CIRCUITS BY RELIABILITY LEVEL

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ARKHIPOV ALEKSEJ V, PARSHIN ALEKSEJ V, PIGANOV MIKHAIL N, CHERNOBROVIN NIKOLAJ G
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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