METHOD OF DETERMINATION OF LAYER THICKNESS ON BASE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KOSHKAROV EVGENIJ V, KOSYREVA MARGARITA A, KONDRATOV VLADIMIR K, BUDKOV PETR V, LEONTEV VIKTOR P
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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