DEVICE FOR MEASURING PARAMETERS OF CURVILINEAR SURFACES AT TESTING

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	VOLOSHINOV DENIS V, SAMSONOV VLADIMIR V, ANDREJCHENKO YURIJ YA, VOLOSHINOV VYACHESLAV A
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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