OPTICAL TRANSMISSION MEASUREMENT TECHNIQUE FOR DIRECT-GAP SEMICONDUCTORS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MIRONOV VLADIMIR A, BRONEVOJ IGOR L, PEREL VLADIMIR I, KUMEKOV SERIK E, AGEEVA NADEZHDA N, GULYAEV YURIJ V, KALAFATI YURIJ D
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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