METHOD OF MEASUREMENT OF CONDUCTANCE OF SEMICONDUCTORS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TAGIEV MAIL M, AGAEV ZAKIR F, ALIEVA TUNZALA D, ABDINOV DZHAVAD SH, AKHUNDOVA NAILYA M
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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