METHOD OF CONTROL OF PROFILE OF ADDITIVE IN BUILT-IN CHANNEL OF MIS TRANSISTOR

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TITOV ALEKSANDR N,SU, ANDRIYASHIK YURIJ R,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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